隨著公司的蓬勃發(fā)展，公司的客戶也朝著多元化、廣泛化的方向發(fā)展。與此同時(shí)用戶朋友尤其是剛剛接觸到我們儀器的用戶朋友，在使用儀器的過程中總會(huì)遇到這樣或那樣的問題。在這里我們以涂層測厚儀為例給大家作個(gè)簡要的講解。

1.為什么儀器有時(shí)測量不準(zhǔn)確？

    這是一個(gè)比較籠統(tǒng)的問題。因?yàn)榫蛢x器不準(zhǔn)的原因來說是多種多樣的。單對(duì)涂層測厚儀來說，主要有下面幾種原因引起測量不準(zhǔn)確。

  （1）強(qiáng)磁場的干擾。我們?cè)鲞^一個(gè)簡單實(shí)驗(yàn)，當(dāng)儀器在1萬V左右的電磁場附近工作時(shí)，測量會(huì)受到嚴(yán)重的干擾。如果離電磁場非常近時(shí)還有可能會(huì)發(fā)生死機(jī)現(xiàn)象。

  （2）人為因素。這中情況經(jīng)常會(huì)發(fā)生在新用戶的身上。涂層測厚儀之所以能夠測量到微米級(jí)就因?yàn)樗軌虿扇〈磐康奈⑿∽兓阉D(zhuǎn)化成為數(shù)字信號(hào)。在使用儀器測量過程中如果用戶對(duì)本儀器不熟悉就可能使探頭偏離被測機(jī)體，使磁通量發(fā)生變化造成錯(cuò)誤測量。所以建議用戶朋友初次使用本儀器時(shí)，要先掌握好測量方法。探頭的放置方式對(duì)測量有很大影響，在測量中應(yīng)使探頭與試樣表面保持垂直。并且探頭的放置時(shí)間不宜過長，以免造成基體本身磁場的干擾。

  （3）在系統(tǒng)校準(zhǔn)時(shí)沒有選擇合適的基體。基體最小平面為7mm，最小厚度為0.2mm，低于此臨界條件測量是不可靠的。

  （4）附著物質(zhì)的影響。本儀器對(duì)那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感。因此必須清除附著物質(zhì)，以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。在進(jìn)行系統(tǒng)校準(zhǔn)時(shí)，選擇的基體的表面也必須是裸露的、光滑的。

  （5）儀器發(fā)生故障。此時(shí)可以和技術(shù)人員交流或者返廠維修。

2.測量過程中，為什么有時(shí)候測量數(shù)據(jù)會(huì)出現(xiàn)明顯偏差？

    測量過程當(dāng)中由于探頭放置方式不正確或者外界干擾因素的影響可能會(huì)造成測量數(shù)據(jù)明顯偏大。這時(shí)可以按住CAL鍵把該數(shù)據(jù)清除以免進(jìn)入數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)中去。

3.如何系統(tǒng)校準(zhǔn)？

    校準(zhǔn)的方法、種類，這是新用戶經(jīng)常會(huì)遇到的問題。系統(tǒng)校準(zhǔn)、零點(diǎn)校準(zhǔn)還有兩點(diǎn)校準(zhǔn)其實(shí)都已經(jīng)在說明書上寫到了，用戶只需仔細(xì)閱讀就可以了。需要注意的是：在校準(zhǔn)鐵基時(shí)最好是多測量幾次以防止錯(cuò)誤操作；系統(tǒng)校準(zhǔn)的樣片要按照從小到大的順序進(jìn)行。如果個(gè)別標(biāo)準(zhǔn)片丟失可以找與其數(shù)值相近的樣片代替。

4.如何選擇合適的儀器型號(hào)？

    選擇什么型號(hào)的儀器最好，要根據(jù)用戶測量物體的厚度來定。一般來說測量1200um以下的物體時(shí)最好選擇MC-2000A型，對(duì)0~1200um的厚度來說該型號(hào)已經(jīng)達(dá)到2%~3%的精確度，而且對(duì)100um以下的厚度值它也能夠很好的確保測量精度。如果測量物體厚度在1200~5000um，建議選擇MC-2000C型測厚儀。更厚的話就要選擇MC-2000D增強(qiáng)型測厚儀。

5.有時(shí)開機(jī)出現(xiàn)干擾是什么原因？

    開機(jī)后儀器屏幕出現(xiàn)測量狀態(tài)箭頭不能再次進(jìn)行測量，就說明儀器受到了干擾。主要有兩個(gè)原因:

  （1）開機(jī)時(shí)探頭離鐵基太近，因?yàn)殍F基磁場的影響而受到了干擾。

  （2）沒插好探頭或者探頭線有損傷。

涂層和覆層測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要一環(huán)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必備手段。為使產(chǎn)品國際化，我國出口商品和涉外項(xiàng)目中，對(duì)涂層覆層厚度測量有了明確的要求和規(guī)定。

    涂層厚度的測量方法主要有：楔切法涂層測量，光截法涂層測量，電解法涂層測量，厚度差測量法，稱重法涂層測量，χ射線熒光法涂層測量，β射線反向散射法涂層測量，電容法涂層測量，磁性測量法和渦流測量法測量厚度等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗(yàn)。隨著科學(xué)技術(shù)的日益進(jìn)步，特別是近年來，采用磁性測量涂層的MC-2000系列和渦流法的MCW-2000B的涂層測厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實(shí)用化的方向進(jìn)了一大步。測量的分辨率已達(dá)1微米，精度可達(dá)1%，有了大幅度的提高。涂層測厚儀適用范圍廣、量程寬、操作簡便且價(jià)廉，是工業(yè)和科研使用最廣泛的涂層測厚儀。

儀器的測量原理

一、磁吸引力測量原理及涂層測厚儀

    永久探頭與導(dǎo)磁鋼材之間的吸力大小與處在這兩者之間的距離成一定比例關(guān)系。這個(gè)距離就是涂層的厚度。根據(jù)這一原理制成涂層測厚儀，只要涂層與基體的導(dǎo)磁率之間足夠大，就可進(jìn)行涂層測量。鑒于大多數(shù)工業(yè)品采用結(jié)構(gòu)鋼和熱軋冷軋鋼板沖壓成型，所以磁性測厚儀應(yīng)用最廣。涂層測厚儀基本結(jié)構(gòu)由磁鋼，接力簧，標(biāo)尺及自動(dòng)停機(jī)構(gòu)組成。磁鋼與被測物吸合后，將測量簧在其后逐漸拉長，拉力逐漸增大。當(dāng)拉力剛好大于吸引力，磁鋼脫離的一瞬間記錄下拉力的大小即可獲得涂層厚度。這種儀器的特點(diǎn)是操作簡便、堅(jiān)固耐用、不用電源，測量前無須校準(zhǔn)，價(jià)格比較低，很適合車間做現(xiàn)場質(zhì)量控制。

二、磁感應(yīng)法測量涂層的原理 

    采用磁感應(yīng)原理測量涂層時(shí)，利用探頭經(jīng)過非鐵磁涂層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定涂層厚度。也可以測定與之對(duì)應(yīng)的磁阻大小，來表示其涂層覆層厚度。涂層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應(yīng)的涂層測厚儀，原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁涂層厚度。一般要求基體導(dǎo)磁率在500以上。如果涂層材料也有磁性，則要求與基體的導(dǎo)磁率之間的差足夠大（如鋼上鍍鎳）。當(dāng)軟芯上繞著線圈的探頭放在被測樣片上時(shí)，涂層測厚儀自動(dòng)輸出測試電流或測試信號(hào)。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭，測量感應(yīng)電動(dòng)勢的大小，涂層測厚儀將該信號(hào)放大后來指示涂層厚度。近幾年來采用了專業(yè)設(shè)計(jì)的集成電路，引入單片微機(jī)，增加先進(jìn)的工具，使測量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高。磁性原理涂層測厚儀可應(yīng)用來精確測量鋼鐵表面的油漆層，瓷、搪瓷防護(hù)層，塑料、橡膠涂層，以及化工石油業(yè)的各種防腐涂層的厚度。

三、電渦流測量原理   

    高頻交流信號(hào)在探頭線圈中產(chǎn)生電磁場，探頭靠近導(dǎo)體時(shí)，就在其中形成渦流。探頭離導(dǎo)電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。這個(gè)反饋?zhàn)饔昧勘碚髁颂筋^與導(dǎo)電基體之間距離的大小，也就是導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電涂層厚度的大小。由于這類涂層測厚儀探頭專門測量非鐵磁金屬基體上的涂層厚度，所以通常稱為非磁性探頭。非磁性探頭采用高頻材料做線圈芯。與磁感應(yīng)原理比較，主要區(qū)別是涂層測厚儀探頭不同，信號(hào)頻率不同，信號(hào)的大小、標(biāo)度關(guān)系不同。采用電渦流原理的涂層測厚儀，原則上對(duì)所有導(dǎo)電基體上的非導(dǎo)電涂層均可測量，如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽極氧化膜。涂層材料有一定的導(dǎo)電性，通過校準(zhǔn)同樣也可測量，但要求兩者導(dǎo)電率之比至少相差3-5倍。雖然鋼鐵基體亦為導(dǎo)體，但這類任務(wù)還是采用磁性原理測量涂層厚度較為合適。

    影響涂層測厚儀測量的若干因素。磁性法測量厚度受基體金屬性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可認(rèn)為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)；基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成份及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)；每一種儀器都有一個(gè)臨界厚度，大于這個(gè)厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響；對(duì)試件表面形狀的陡變敏感，因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測量是不可靠的；試件的曲率對(duì)測量有影響，隨著曲率半徑的減少明顯地增大，因此，在彎曲試件的表面上測量也是不可靠的；探頭會(huì)使軟涂層試件變形，因此在這些試件上測不出可靠的數(shù)據(jù)；基體金屬和涂層的表面粗糙度對(duì)測量有影響。粗糙度增大，影響增大，粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測量時(shí)，在不同的位置上應(yīng)增加測量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體上基體金屬粗糙，還必須在未涂的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn)，或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解去除涂層后，再校對(duì)儀器的零點(diǎn)；周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場，會(huì)嚴(yán)重干擾磁性測厚工作；那些妨礙探頭與涂層表面緊密接觸的附著物質(zhì)，必須清除，在測量中，要保持壓力恒定，探頭與試件表面保持垂直，才能達(dá)到精確的測量。