FS® XDVM-W測厚儀
FISCHERSCOPE® XDVM®-W
FISCHERSCOPE® XDVM®-W是一款基于Windows™ 的鍍層厚度測量和材料分析的X-射線系統(tǒng)。它杰出的特性包括:2組可切換的各帶4個視準(zhǔn)器的視準(zhǔn)器組,大的開槽的測量箱體確保工件放置簡便,精確的可編程的直流電機驅(qū)動的X-Y工作臺快速和無振動移動以及原始射線從上往下設(shè)計為在Z-軸可移動的X-射線發(fā)生和接受裝置。
這個特性使得該系統(tǒng)非常適合于測量大批量生產(chǎn)的部件,例如螺絲,連接器插針或大的線路板。按動按鈕就可根據(jù)預(yù)設(shè)的測試點定位進(jìn)行自動測量,并可自動的進(jìn)行評估報告輸出。
其它不同版本的儀器參見“技術(shù)詳細(xì)信息"。