聲學(xué)掃描顯微鏡是一種非破壞性的檢測(cè)組件的完整性,內(nèi)部結(jié)構(gòu)和材料的內(nèi)部情況的儀器,作為無(wú)損檢測(cè)分析中的一種,它可以實(shí)現(xiàn)在不破壞物料電氣能和保持結(jié)構(gòu)完整性的前提下對(duì)物料進(jìn)行檢測(cè)。被廣泛的應(yīng)用在物料檢測(cè)(IQC)、失效分析(FA)、質(zhì)量控制(QC)、質(zhì)量保證及可靠性(QA/REL)、研發(fā)(R&D)等領(lǐng)域。
其可以檢測(cè):1.材料內(nèi)部的晶格結(jié)構(gòu),雜質(zhì)顆粒; 2.內(nèi)部裂紋; 3.分層缺陷; 4.空洞、氣泡、空隙等等
在聲學(xué)顯微成像(AMI: Acoustic Micro Imaging)技術(shù)應(yīng)用于內(nèi)部品質(zhì)無(wú)損檢測(cè)與分析方面,Sonoscan一直是該行業(yè)的權(quán)威之一。Sonoscan系統(tǒng)被視為精確基準(zhǔn),通過(guò)我們的SonoLab™ 部門(mén),您可以向我們的聲學(xué)應(yīng)用工程師進(jìn)行咨詢,獲取專業(yè)意見(jiàn)和指導(dǎo)。Sonoscan致力于通過(guò)教育項(xiàng)目、客戶應(yīng)用程序評(píng)估與新系統(tǒng)開(kāi)發(fā)來(lái)實(shí)現(xiàn)AMI技術(shù)的持續(xù)改進(jìn)。
對(duì)AMI技術(shù)的專業(yè)研究是Sonoscan工作的核心。我們努力提供非凡的數(shù)據(jù)精確性、出眾的圖像質(zhì)量和世界領(lǐng)先的技術(shù)。我們?cè)贏MI技術(shù)方面還擁有多項(xiàng)美國(guó)和外國(guó)專利。總之,Sonoscan是您最值得信任的伙伴,我們可以為您節(jié)省成本并提高效率。
Sonoscan C-SAM D9500是一種新型AMI標(biāo)準(zhǔn)儀器,可以提供出眾的精確度和穩(wěn)定性,適合破損分析、工藝開(kāi)發(fā)以及材料分析與表征。
超聲波探頭頻率:5M到400M
超聲波掃描模式:A-Scan(某點(diǎn)掃描)、B-Scan(塊掃描)、C-Scan(層掃描)、Multi-Scan(多層掃描)、Q-BAM(虛擬橫截面)、T-Scan (穿透式掃描)、3-V(3維圖像)、Tray-Scan(盤(pán)掃描)
最大掃描范圍:12.9X12.4英寸
最大分辨率:8192X8192
選擇的聲波寬度:0.25納秒到1微秒
Z軸分辨率:80納米