產(chǎn)品描述:
IBIS-S是一個基于微波干涉技術(shù)的高級遠(yuǎn)程監(jiān)控系統(tǒng),它將步進(jìn)頻率連續(xù)波技術(shù)(SF-CW)和干涉測量技術(shù)相結(jié)合,可廣泛應(yīng)用于建筑物,橋梁,高塔,壩體,公路和鐵路邊坡等微小位移變化的監(jiān)測。
該系統(tǒng)是意大利IDS公司和佛羅倫薩大學(xué)經(jīng)過6年合作研發(fā)的結(jié)果,它能夠?qū)δ繕?biāo)物提供連續(xù),全面的監(jiān)測。IBIS-S可對橋梁,建筑物,高塔等易發(fā)生微小變化的物體進(jìn)行精確的監(jiān)測,得到被測物每部分的位移變化量,分析建筑物或橋梁上每一個點(diǎn)的變形,振動情況。此外,通過該設(shè)備能夠及其便捷地對橋梁或建筑物進(jìn)行健康普查和評估。
工作原理
IBIS-S系統(tǒng)主要是通過干涉測量對目標(biāo)物的位移情況進(jìn)行監(jiān)測。在該系統(tǒng)中。兩項(xiàng)重要的技術(shù)保證了IBIS-S所進(jìn)行的高精度,大范圍,遠(yuǎn)距離的位移監(jiān)測,它們是干涉測量技術(shù)(Interferometric Survey)和步進(jìn)頻率連續(xù)波(Stepped Frequency-Continous Wave).
干涉測量技術(shù)(Interferometric Survey)
干涉測量技術(shù)目前是一項(xiàng)非常成熟的測量技術(shù),主要保證對目標(biāo)物的唯一變化情況進(jìn)行精確測量,該技術(shù)主要是通過雷達(dá)反射波的相位差異而進(jìn)行的。。如下圖,經(jīng)過雷達(dá)的第一次發(fā)射和接受雷達(dá)波,確定了目標(biāo)物所在的位置和相位信息;再經(jīng)過一次發(fā)射和接受雷達(dá)波,確定第二個位置和相位信息,通過其相位差異確定精確的位移變化。理論上最小可識別的位移變化為0.000154mm(如下圖中公式所示,d為測量出的位移,λ為電磁波的波長,j2- j1為相位差),這個精度完全能夠滿足在橋梁,建筑,高塔,邊坡等行業(yè)的需求。
技術(shù)參數(shù):
遙測距離可達(dá)2公里,無需再目標(biāo)區(qū)域安裝傳感器,無需靠近或進(jìn)入目標(biāo)物
測量精度達(dá)0.01mm,目標(biāo)的微小變形都能夠被捕捉到
能夠?qū)δ繕?biāo)物進(jìn)行動態(tài)和靜態(tài)監(jiān)測,采樣頻率可以由用戶自助設(shè)置
高頻數(shù)據(jù)采集,采樣頻率最高可達(dá)200MHz
準(zhǔn)確分析出目標(biāo)物0—50MHz的振動情況,得到目標(biāo)物的多階振動頻率
可對目標(biāo)物進(jìn)行模態(tài)分析,解析出目標(biāo)物在多階振動頻率下的振形
在所有天氣(如下雨,刮風(fēng),大霧等)天氣條件下都能夠提供連續(xù)的數(shù)據(jù)采集
直接,實(shí)時(shí)監(jiān)測,通過解析單個像素的信息,可以得到整個目標(biāo)物的變形量,全自動24小時(shí)連續(xù)監(jiān)測,可遙控測量,無需操作人員在現(xiàn)場守候
設(shè)備運(yùn)輸和安裝簡單方便,操作自動化程度高