性能特點(diǎn):
CHT3550采用獨(dú)創(chuàng)的二端對測試原理,以達(dá)到高速、高精度、高分辨率的電阻測試??赏瑫r(shí)測量被測元件的各種參數(shù)(R/θ/z/x/L)??梢詼y試1μΩ~3.2kΩ的電阻,最大顯示32,000個(gè)數(shù),基本準(zhǔn)確度可達(dá)0.3%。
交流干電路測試功能,最大測試電流<10mA,最大開路電壓<20mV,完全符合GB5095對電子設(shè)備接觸電阻測試要求、GBT351對貴重金屬接觸電阻的測試要求。
使用場合:
低電流條件下的元器件低電阻測試
貴金屬、連接器、開關(guān)、繼電器的接觸電阻測試
超級電容(低阻抗電容)的ESR測試
IC的內(nèi)部損壞測定
性能特點(diǎn):
*四色高清VFD彩屏
*高速測量:高達(dá)20次/秒的測試速度
*首創(chuàng)的防誤判測試線異常檢測
*符合GB5095、GBT351測試要求
*直讀/絕對偏差/相對偏差顯示
*用戶自校準(zhǔn)功能
*人性化直觀的操作界面
*內(nèi)建比較器,30檔分選及計(jì)數(shù)功能
*多種接口,適合用戶不同需求
*良好的測試穩(wěn)定性
技術(shù)參數(shù):
測試參數(shù) 交流電阻/相位角/阻抗/電抗/電感量
測量范圍 電阻:1μΩ~3.2kΩ
基本準(zhǔn)確度 電阻:0.3%
最大讀數(shù) 3,2000
電流模式 恒流1kHz
開路電壓 <20mV
最大測試電流 <10mA
測試速度 2次/秒、10次/秒、20次/秒
比較器 30組記錄,顯示和輸出GD-IN,NG-LO,NG-HI
觸發(fā)方式 內(nèi)部、手動(dòng)