產(chǎn)品描述:
TH2661型四探針測(cè)試儀,可測(cè)量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率及擴(kuò)散層的薄層電阻,適用于半導(dǎo)體和太陽能材料測(cè)試的要求,也可對(duì)分立電阻進(jìn)行測(cè)量,USB接口可為用戶提供遠(yuǎn)程控制及測(cè)試數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)和分析。由于采用了電池和外接電源兩種供電方式,既能適應(yīng)固定場(chǎng)合對(duì)元器件進(jìn)行檢測(cè),又可隨身攜帶以滿足測(cè)試人員的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試要求。
技術(shù)參數(shù):
大屏幕液晶顯示
■ 可手動(dòng)或自動(dòng)選擇合適的電流源量程...
■ 預(yù)設(shè)樣片厚度,自動(dòng)修正,直讀電阻...
■ 200個(gè)讀數(shù)存儲(chǔ),最大值/最小值...
■ USB通訊功能,可通過上位機(jī)軟件...
■ 讀數(shù)穩(wěn)定性好
■ 電池及外接電源供電方式