在信息化社會不斷進步的現(xiàn)在,為了收發(fā)大容量數(shù)據(jù),高速差分傳輸?shù)葌鬏斁€也在高速發(fā)展中。這種高速傳輸線的歪斜(延遲時間差)和干擾解決方法中所使用的共模濾波器或鐵氧體磁珠等電子元器件也向高頻化發(fā)展。 這次發(fā)售IM7580阻抗分析儀最高可測300MHz的高頻,是能應對高頻化發(fā)展的電子元器件的產品。通過IM7580最快0.5ms(0.0005秒)的高速測量速度,可以更快速的檢查大批量的電子元器件,從而大幅提高電子元器件廠家的生產效率。 |
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開發(fā)背景 |
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現(xiàn)在,為了收發(fā)大容量數(shù)據(jù),高速差分傳輸?shù)葌鬏斁€也在高速發(fā)展中。為了在保證高速傳輸線的信號品質的同時控制干擾,使用共模濾波器或鐵氧體磁珠等電子元器件,隨著傳輸線的高速發(fā)展,這類電子元器件也向高頻化發(fā)展。 |
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IM7580阻抗分析儀主要用途 |
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電子元器件廠家的電子元器件的出貨檢查 電子公司的電子元器件的驗收和特性評估 |
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IM7580的特點 |
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最高300MHz的高頻測量 最快0.5ms的高速測量或高穩(wěn)定性的測量,有助于提高生產效率 主機體積更小,有助于降低生產成本 各種各樣的判斷功能判斷合格與否 |