測(cè)試種類 |
可測(cè)試TTL、CMOS、GAL、RAM、EPROM、CPU及可編程器件 |
顯示方式 |
圖形顯示(時(shí)序顯示)、狀態(tài)顯示 |
被測(cè)芯片腳數(shù) |
100腳以下 |
最大輸出電流 |
每引腳100mA |
測(cè)試速度 |
500kHz/Pin |
中文Windows操作平臺(tái) |
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開(kāi)放式自建芯片的數(shù)據(jù)庫(kù) |
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V-1特性曲線測(cè)試 |
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工作溫度 |
0°C~30°C |
工作濕度 |
75% |
功耗 |
約45W(不包括供待測(cè)板的功耗) |
工作電壓 |
220V±10% |
YB3117配臺(tái)式電腦 |
YB3118配筆記本電腦 |
外形尺寸 |
90H×350W×350D(mm) |
質(zhì)量 |
約4.7kg |