ICT33C+數(shù)/模集成電路測試儀
ICT33C+數(shù)/模集成電路測試儀具有以下主要用途:維修各類電子產(chǎn)品,判斷其集成電路故障。破譯被抹去型號集成電路的真實型號。燒寫各類EPROM、EEPROM、FLASH ROM、單片機片內(nèi)ROM。開發(fā)各類智能電子產(chǎn)品,調(diào)試程序。檢驗新購器件的質(zhì)量。
1、系統(tǒng)主要構(gòu)成:
(1) CPU:MCS51系列產(chǎn)品89C52;主頻:11.059M。
(2) 程序存儲器:128K EPROM。
(3) RAM緩沖區(qū):128K靜態(tài)RAM。
(4) 顯示器:8位液晶顯示器。
(5) 操作鍵盤:20位輕觸式按鍵鍵盤。
(6) 輸出:七只LED+八位液晶顯示+聲音提示。
(7) 機箱:全塑結(jié)構(gòu)機箱。
2、技術(shù)規(guī)格:
(1)電源電壓:AC220V±15%,50HZ。
(2)整機功耗:15VA。
(3)測試電壓:3.3V,5.0V,9.0,15V。
(4)編程電壓:12.5V,21V。
(5)最大測試腳數(shù):DIP封裝40腳;SOP封裝20腳(須另購適配器)。
(6)型號輸入位數(shù):3—6位。
(7)適用溫度:0—40℃。
(8)測試規(guī)范:輸入短路測試;輸出短路測試;100%功能測試。
(9)輸出高電平VOH:大于2.8V(VT=5.0V)。
(10)輸出低電平VOL:小于0.7V(VT=5.0V)。
(11)輸入高電平VIH:大于4.5V(VT=5.0V)。
(12)輸入低電平VIL:小于0.2V(VT=5.0V)。