安規(guī)測(cè)試儀相關(guān)資料

         安規(guī)測(cè)試儀測(cè)試時(shí)直流高壓輸出是負(fù)電壓，而地為正極。測(cè)試電容時(shí)，在電容器兩端加上電壓時(shí)有一充電過(guò)程，此時(shí)在測(cè)試電路中有一充電電流，當(dāng)該電流大于所設(shè)定的漏電電流值時(shí)，耐壓測(cè)試儀就會(huì)報(bào)警，使測(cè)試中斷，無(wú)法進(jìn)行。因此，安規(guī)測(cè)試儀在測(cè)試時(shí)，應(yīng)緩慢增加電壓，充電電流小于所設(shè)定的漏電電流值，直到規(guī)定測(cè)試電壓，進(jìn)行測(cè)試。而不能采用固定電壓，復(fù)位—啟動(dòng)方式進(jìn)行測(cè)試.在交流回路中相當(dāng)于直流回路中的電阻，因此，安規(guī)測(cè)試儀在交流回路中就產(chǎn)生一個(gè)電流，當(dāng)該電流大于所設(shè)定的漏電流值時(shí)，耐壓測(cè)試儀就會(huì)報(bào)警，使得測(cè)試中斷，無(wú)法進(jìn)行。因此，在測(cè)試前，應(yīng)先計(jì)算好電容器的容抗（Xc），再算出在測(cè)試電壓下的回路電流值，然后調(diào)節(jié)耐壓測(cè)試儀漏電流預(yù)置值，使其略大于回路電流值，再進(jìn)行測(cè)試。J）測(cè)試電纜等分布電容大的元件（設(shè)備）要等同于電容器測(cè)試。

1、 何謂耐壓測(cè)試?  耐壓測(cè)試是最常見(jiàn)的安規(guī)測(cè)試之一，常見(jiàn)的dielectric withstand、high potential、hipot test都是指耐壓測(cè)試。耐壓測(cè)試的主要目的測(cè)試DUT(Device under Test)的絕緣能力。故當(dāng)設(shè)備在運(yùn)作時(shí)，對(duì)測(cè)試點(diǎn)施以一高壓，測(cè)試是否有絕緣破壞(Breakdown)或電氣閃絡(luò)(Flashover/ARC)發(fā)生。 　2 、在安規(guī)中絕緣有幾種類(lèi)型? 絕緣類(lèi)型分為四種：基本絕緣(Basic)、輔助絕緣(Supplementary)、雙重絕緣(Double)以及加強(qiáng)絕緣(Reinforced)。由於產(chǎn)品內(nèi)部可能因灰塵過(guò)多、潮濕或是其他原因?qū)е卵孛娣烹姡虼艘岔氁阅蛪簻y(cè)試判斷產(chǎn)品內(nèi)部電路設(shè)計(jì)是否有沿面距離或絕緣不足等問(wèn)題。 3 、在AC耐壓測(cè)試時(shí)，為何需要real current 的判斷？ AC輸出總電流(total current)可能因部份內(nèi)部容抗而造成與真實(shí)測(cè)試電流(real current)之間的差異。電流在輸出時(shí)，若受到較大容抗時(shí)，反應(yīng)電流(reactive)會(huì)較大，而使得真實(shí)測(cè)試電流相對(duì)變小。若無(wú)法準(zhǔn)確測(cè)量輸出電流與加以補(bǔ)償，會(huì)造成測(cè)試上的盲點(diǎn)。 4、 何謂漏電流? 　當(dāng)電流經(jīng)過(guò)絕緣阻抗後溢出，稱(chēng)之為漏電流(Leakage current)，當(dāng)漏電流經(jīng)由人體接觸，使電流經(jīng)過(guò)人體後流向Earth，即造成電氣傷害。漏電流測(cè)試與耐壓測(cè)試、接地保護(hù)測(cè)試的不同處，在於設(shè)備是在運(yùn)作狀態(tài)下做測(cè)試。漏電流測(cè)試中會(huì)加上一個(gè)人體模擬阻抗電路，可模擬在真實(shí)情況下漏電流經(jīng)過(guò)人體的大小。