x熒光光譜儀Thick800性能特點(diǎn)
光譜 Ｘ?zé)晒夤庾V儀Thick800介紹
Ｘ?zé)晒夤庾V儀Thick800儀器簡(jiǎn)介:
THICK 800是我公司專(zhuān)門(mén)研發(fā)的鍍層厚度測(cè)試儀。儀器能分析單鍍層、雙鍍層、合金鍍層等多種鍍層類(lèi)型的厚度，精確度達(dá)到0.01μm，同時(shí)鍍層分析能力多達(dá)5層。THICK 800采用上照式設(shè)計(jì)，通過(guò)三維移動(dòng)和激光定位，可實(shí)現(xiàn)對(duì)大件部件的鍍層厚度和含量的無(wú)損、快速測(cè)定。
Ｘ?zé)晒夤庾V儀Thick800應(yīng)用領(lǐng)域：
鍍層厚度測(cè)量
鍍層和電鍍液含量測(cè)定
電鍍業(yè)
首飾加工
Ｘ?zé)晒夤庾V儀Thick800配置：
正比計(jì)數(shù)盒探測(cè)器/電制冷Si-PIN探測(cè)器。
穩(wěn)定X光管。
內(nèi)置信噪比增強(qiáng)器可有效提高儀器信號(hào)處理能力25倍以上。
針對(duì)不同樣品選配合適準(zhǔn)直器和濾光片。
二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和X光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。
雙激光定位裝置。
開(kāi)放式樣品腔。
玻璃屏蔽罩。
信號(hào)檢測(cè)電子電路。
高低壓電源。
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線(xiàn)性回收程序。
智能鍍層檢測(cè)軟件，與儀器硬件相得益彰。
Ｘ?zé)晒夤庾V儀Thick800技術(shù)指標(biāo)：
產(chǎn)品名稱(chēng)：Skyray X熒光光譜儀
型號(hào)：THICK 800
金屬鍍層檢出限：0.01μm
同時(shí)鍍層分析能力：5層
元素分析范圍：從鉀（K）到鈾（U）。
多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)：0.01μm
長(zhǎng)期工作穩(wěn)定性為：0.1μm（5μm左右單鍍層樣品）
輸入電壓：220±5V/50HZ（建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源）
環(huán)境溫度:15℃—30℃
環(huán)境濕度：35%—70%
樣品腔面積: 517 mm×352mm×150mm
外形尺寸：648mm×490mm×544mm
重量：65Kg | 
適合您:德國(guó)EPKMiniTest4100涂鍍層測(cè)厚儀
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